場效應(yīng)管檢測維修圖文解析|必看-KIA MOS管
信息來源：本站 日期：2021-05-11
場效應(yīng)晶體管（Field Effect Transistor縮寫(FET)）簡稱場效應(yīng)管。主要有兩種類型（junction FET—JFET)和金屬 - 氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管（metal-oxide semiconductor FET，簡稱MOS-FET）。由多數(shù)載流子參與導(dǎo)電，也稱為單極型晶體管。
它屬于電壓控制型半導(dǎo)體器件。具有輸入電阻高（107～1015Ω）、噪聲小、功耗低、動態(tài)范圍大、易于集成、沒有二次擊穿現(xiàn)象、安全工作區(qū)域?qū)挼葍?yōu)點，現(xiàn)已成為雙極型晶體管和功率晶體管的強大競爭者。
場效應(yīng)管（FET）是利用控制輸入回路的電場效應(yīng)來控制輸出回路電流的一種半導(dǎo)體器件，并以此命名。由于它僅靠半導(dǎo)體中的多數(shù)載流子導(dǎo)電，又稱單極型晶體管。FET 英文為Field Effect Transistor，簡寫成FET。
場效應(yīng)管工作原理用一句話說，就是“漏極-源極間流經(jīng)溝道的ID，用以柵極與溝道間的pn結(jié)形成的反偏的柵極電壓控制ID”。
更正確地說，ID流經(jīng)通路的寬度，即溝道截面積，它是由pn結(jié)反偏的變化，產(chǎn)生耗盡層擴展變化控制的緣故。
在VGS=0的非飽和區(qū)域，表示的過渡層的擴展因為不很大，根據(jù)漏極-源極間所加VDS的電場，源極區(qū)域的某些電子被漏極拉去，即從漏極向源極有電流ID流動。
從門極向漏極擴展的過度層將溝道的一部分構(gòu)成堵塞型，ID飽和。將這種狀態(tài)稱為夾斷。這意味著過渡層將溝道的一部分阻擋，并不是電流被切斷。
在過渡層由于沒有電子、空穴的自由移動，在理想狀態(tài)下幾乎具有絕緣特性，通常電流也難流動。但是此時漏極-源極間的電場，實際上是兩個過渡層接觸漏極與門極下部附近，由于漂移電場拉去的高速電子通過過渡層。
因漂移電場的強度幾乎不變產(chǎn)生ID的飽和現(xiàn)象。其次，VGS向負的方向變化，讓VGS=VGS(off)，此時過渡層大致成為覆蓋全區(qū)域的狀態(tài)。
而且VDS的電場大部分加到過渡層上，將電子拉向漂移方向的電場，只有靠近源極的很短部分，這更使電流不能流通。
測量場效應(yīng)管的好壞一般采用數(shù)字萬用表的二極管（蜂鳴擋）。測量前須將三只引腳短接放電，避免測量中發(fā)生誤差。用兩表筆任意觸碰場效應(yīng)管的三只引腳中的兩只，好的場效應(yīng)管測量結(jié)果應(yīng)只有一次有讀數(shù)，并且在 400～800 之間。
如果在最終測量結(jié)果中測得只有一次有讀數(shù)，并且為“0”時，或者測量結(jié)果中有兩次讀數(shù)，須用小鑷子短接該組引腳重新進行測量。如果重測后阻值在 400～800 之間說明場效應(yīng)管正常。如果其中有一組數(shù)據(jù)為0，則場效應(yīng)管已經(jīng)被擊穿。
場效應(yīng)管的檢測步驟如下：
（1）首先觀察待測場效應(yīng)管外觀，看待測場效應(yīng)管是否完好，如果存在燒焦或針腳斷裂等情況說明場效應(yīng)管已發(fā)生損壞，如圖1所示，本次待測的場效應(yīng)管外型完好沒有明顯的物理損壞。
（2）待測場效應(yīng)管外型完好沒有明顯損壞需進一步進行測量，用一小鑷子夾住待測場效應(yīng)管用熱風(fēng)焊臺將待測場效應(yīng)管焊下。
（3）將場效應(yīng)管從主板中卸下后，須用小刻刀清潔待測場效應(yīng)管的引腳，如圖2所示。去除引腳上的污物，避免因油污的隔離作用影響測量時的準(zhǔn)確性。
（4）清潔完成后，用小鑷子對待側(cè)場效應(yīng)管進行放電避免殘留電荷對檢測的影響（場效應(yīng)管極易存儲電荷）如圖3所示。
（5）選擇數(shù)字萬用表的 “二極管”擋，如圖4所示。
（6）將黑表筆接待測場效應(yīng)管左邊的第一只引腳，用紅表筆分別去測與另外兩只引腳間的阻值，如圖5所示。兩次檢測均為無窮大。
（7）將黑表筆接中間的引腳，用紅表筆分別去測與另外兩只引腳間的阻值，如圖6所示。
（8）將黑表筆接在第三只引腳上，用紅筆筆分別去測另外兩只引腳與該引腳間的阻值如圖7所示。
（9）由于測量的場效應(yīng)管的三只引腳中的任意兩只引腳的阻值，只有一次有讀（540），且阻值在 400～800 之間，因此判斷此場效應(yīng)管正常。
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